Kategorie

Przywitanie marki HSM - 10% rabatu

Wiosenna promocja:

Kupując niszczarkę marki HSM, otrzymasz wyjątkowy prezent!
Promocja ważna do 14.06.2019 lub wyczerpania zapasów promocyjnych.

kafelek HSM SECURIO P36i.jpg
kafelek - HSM SECURIO AF500.jpgsecurio_B26.jpg
kafelek - HSM SECURIO AF150.jpgsecurio_C18.jpg




Norma ISO/IEC 21964 -nowy standard niszczenia danych

Rok 2018 był bardzo ważny z punktu widzenia ochrony danych: w maju weszło w życie unijne rozporządzenie o ochronie danych osobowych RODO, natomiast od sierpnia obowiązuje nie mniej ważna, ale nieznana jeszcze norma ISO/IEC 21964.

Od 2012 roku procesy związane z niszczeniem wszelkiego rodzaju nośników danych są regulowane normą DIN 66399. Uwzględniając różnorodność nośników danych, DIN 66399 definiuje standardy bezpieczeństwa w zakresie ich utylizacji. Jest to norma niemiecka, jednak wobec braku lokalnych przepisów, posługiwano się nią również w innych krajach.

W sierpniu 2018 roku nastąpiła znacząca zmiana - wytyczne DIN 66399 zostały oficjalnie umiędzynarodowione w postaci normy ISO/IEC 21964. Wszelkie regulacje znane z normy DIN zostały tym samym ujęte w nowej normie ISO/IEC. Dzięki globalnemu zastosowaniu, ISO/IEC 21964 gwarantuje, że dane są utylizowane w każdym państwie na takich samych zasadach. ISO/IEC 21964 standaryzuje zatem procesy niszczenia nośników danych na całym świecie.

Jest to również spore ułatwienie dla nabywców, szczególnie w branży przetargowej, ponieważ wszyscy producenci niszczarek dokumentów muszą przestrzegać tych samych wytycznych normy ISO/IEC 21964 w zakresie wielkości pasków oraz ścinków.

Począwszy od 2019 roku, HSM klasyfikuje wszystkie swoje urządzenia zgodnie z wytycznymi ISO/IEC 21964.




Salon Audio-Video

Sala odsłuchowa

Zapraszamy do naszego Showroomu w którym przetestują Państwo dowolny projektor, amplituner lub ekran projekcyjny z naszej ofery. Wszystko pod opieką naszych specjalistów, którzy służą pomocą w wyborze.

CZYTAJ WIĘCEJ
Szczegóły zamówień Tax Free

Who can claim VAT Refund?

TAX FREE SHOPPING

read more